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關鍵詞：BX-G2517便攜式超聲波探傷檢測儀 BX-G2517便攜式超聲波探傷檢測儀
超聲波專業探傷儀 探測超聲波的儀器 高精度超聲波探傷儀 多用途超聲波檢測儀
■儀器特點：
A 特優點
a.全中文菜單式友好操作界面，方便快捷；
b.超高亮彩色液晶顯示，可根據不同現場環境改變；
c.超聲衍射波成像檢測，解決傳統放射檢測的掃查
厚度及檢測效率局限性，節約探傷成本；
d. 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、
導波成像等多能一體；
e. 獨-有合成孔徑聚焦技術，領潮行業，有效提高缺陷
測量精度；
f. 波形相位穩定，信噪比高，缺陷識別更清晰；
g. 內置現場檢測工藝模型，自動生成檢測工藝；
h. 便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查，滿足各
種工件檢測要求；
i. 多通道TOFD檢測實現大厚壁焊縫一次性全面覆蓋；
j. 超大機內存儲空間及便捷的文件網絡傳輸功能；
k. 高分子復合材料機身，有效防震、抗跌落；
l. 集成數據電纜，裝卸方便，信號傳輸損耗?。?/span>
m. 高性能安保鋰電，模塊插接，一機兩電，超長續航。
B探傷功能
掃查方式：對焊縫進行全面非平行、平行掃查；
缺陷定位：分析軟件直接讀出缺陷位置、深度、自身高度；
缺陷顯示：直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點；
Ａ型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力；
Ｂ掃成像：實時顯示缺陷截面形狀；
Ｃ掃成像：實時顯示缺陷俯視成像；
Ｄ掃成像：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對
缺陷質量進行評價；
Ｐ掃成像：實時空氣超聲定位，對缺陷進行三維描述，提高
缺陷判性準確率；
導波成像：對薄壁工件進行一維掃查，獲取二維成像。
C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200ｍｍ厚度以內的分區
掃查；可擴展至400ｍｍ厚度。
D 數據分析
直通波去除：近表面缺陷專用處理工具，提高近表缺陷分析精度；
橫豎調整：滿足不同現場操作習慣；
ＳＡＦＴ：有效提高缺陷測量精度的功能。
E數據存儲與輸出
a.預先調校好各類探頭與儀器的組合參數，方便存儲、調出、離線分析、
復驗、打印、通訊傳輸。
b.超大內存容量，單次掃查最多可記錄40米。
c.掃查圖像、文件可根據使用要求自動保存、自動編名。
d.支持雙USB拷貝、網絡傳輸、外接顯示器等。
■技術參數：
頻帶寬度：0.3-22MHz
脈沖電壓：－400Ｖ
脈沖前沿：<10ns
重復頻率：1000Hz（每通道）
平均次數：8
采樣深度：512，1024
匹配阻抗：25，500
檢波方式：數字檢波
增益范圍：0dB－110dB波形顯示方式：射頻波，檢波（全檢、負或正半檢波），信號頻 譜（FFT）
掃描延時：0~500us可控0.008us精度
掃查定位：時基（內置實時時鐘-0.02秒精度）/真實位置（增量編碼器-0.5mm精度）
成像模式：根據選擇的操作模式和相應的儀器配置及設置顯示連續A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導波成像
直線掃查長度：0-40米
記錄方式：完-全原始數據記錄
離線分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形
缺陷尺寸測量和輪廓描述
厚度/幅度數據統計分析
記錄轉換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel
數據報告：直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導波檢
工作環境：
工作溫度：-10 ~ 50℃
存儲溫度：-20℃ ~ 60℃
相對濕度：不超過85%
工作電壓：DC24V
當前位置：
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